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P4340前缀用于确定半导体器件的参数。

调整和控制PTA的仪器。自1978年以来，已经生产出用于确定半导体器件参数的P4340前缀。 它设计用于测量公共发射极电路中的双极pnp和npn晶体管，公共源电路中具有p和n沟道的单极（场效应）晶体管以及其他具有pn结的半导体器件的参数，用作以下器件的读取器件：任何具有直流和电压测量限制的电气测量设备。